NI發(fā)布《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2013》
日期:2013-04-08 11:08

　　新聞要點(diǎn)

　　 自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2013介紹了最新的商業(yè)策略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O，它們影響著當(dāng)前和未來以電子產(chǎn)品為基礎(chǔ)行業(yè)的發(fā)展。

　　 NI憑借其在自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的數(shù)十年經(jīng)驗(yàn)，在商業(yè)關(guān)系、內(nèi)部專業(yè)知識(shí)和第三方研究的基礎(chǔ)上進(jìn)行了自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)預(yù)測(cè)。

　　新聞發(fā)布 － 2013年4月－ 美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI）于近日發(fā)布《自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)展望2013》，分享了公司對(duì)最新測(cè)試測(cè)量技術(shù)和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 本報(bào)告探究了受發(fā)展趨勢(shì)影響的各個(gè)行業(yè)，包括航空航天和國防、汽車、消費(fèi)電子產(chǎn)品、

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